元素杂质检测
重点面向高纯无机盐和湿电子化学品，精准识别关键金属杂质。
- ICP-MS：ppt 级检测下限，70+ 元素覆盖
- ICP-OES：复杂基体中多元素并行监测
- AAS：针对单元素深度分析与验证
ANALYTICAL POWER
覆盖 ppt 级检测的分析能力矩阵
实验室引入 ICP-MS、ICP-OES、ICP-AES、GC、LC、AAS、SEM、离子色谱等 30 余台高端仪器，满足高纯度产品对多元素、痕量杂质、微观形貌的综合分析需求。
有机成分监控
保障配方化学品的纯度与稳定性，支撑客户工艺窗口。
- GC/GC-MS：挥发性杂质与残留溶剂
- LC/LC-MS：高沸点或热不稳定成分
- TOC：碳基杂质与清洗验证
结构与形貌评价
服务于粉体材料的粒径、形貌、晶型等指标，保障端到端追溯。
- SEM/EDS：表面形貌与成分分布
- XRD：晶体结构与物相分析
- 粒度仪/比表面积仪：粒径分布与孔结构
PROCESS CONTROL
分析数据驱动全过程质量控制
检测系统与 MES/LIMS 联动，实现“来料-过程-成品-客户反馈”闭环追踪，形成工艺能力指数和批次健康度双维度监控体系。
| 环节 | 主要检测项目 | 仪器与方法 | 输出成果 |
|---|---|---|---|
| 原料筛选 | 纯度、颗粒、杂质谱 | ICP-MS、SEM、GC | 原料准入标准与分级 |
| 过程监控 | 关键工序参数、溶液状态 | 在线电导、TOC、离子色谱 | 实时 SPC 告警与调节建议 |
| 成品放行 | 客户关注指标、稳定性 | ICP-OES、XRD、粒度仪 | COA 报告与批次档案 |
| 应用反馈 | 失效原因、残留分析 | SEM/EDS、LC-MS | 根因分析与配方优化 |
KEY DEVICES
主要研发及检测设备
核心表征与分析设备与各实验单元联动，确保从原料到产品的每一步都可量化、可追溯。
粒子计数器
电感耦合等离子体发射光谱仪
电感耦合等离子体质谱仪
能量色散型X射线荧光光谱仪
高效液相色谱仪
离子色谱仪
QUALITY LAB
资质体系与实验室管理
实验中心通过 CNAS 等同审核标准建设，导入 ISO/IEC 17025 质量体系，配备双人复核、样品溯源、环境监控等模块。
- 检测环境恒温恒湿，洁净等级满足电子化学品要求
- 样品全流程条码管理，支持盲样、对照样验证
- 关键数据加密存储，确保客户机密与合规性